激光发散角光斑分析仪
关键词: 激光发散角光斑分析仪 光斑分析仪
2025.04.14
文章来源:深圳市维度科技股份有限公司
使用 BeamHere 光斑分析仪测量光斑与光束质量的流程 1. 成像原理 BeamHere 采用背照式 CMOS 传感器,量子效率达 95%(500-1000nm),配合非球面透镜组实现无畸变成像。 2. 信号处理 采集到的模拟信号经 16 位 ADC 转换,通过数字滤波算法消除噪声,确保弱光信号(SNR>40dB)还原。 3. 参数计算 光斑尺寸:基于高斯拟合与阈值分割法 M² 因子:采用 ISO 11146-1:2005 标准的二阶矩法 发散角:通过不同位置光斑尺寸计算斜率 4. 校准流程 内置波长校准模块(400-1700nm),每年需用标准光源进行增益校准,确保测量精度 ±1.5%。 5. 数据安全 测量数据自动加密存储于本地数据库,支持云端备份,符合 GDPR 数据保护法规。近场光斑测试系统怎么搭建?激光发散角光斑分析仪
光斑分析仪
维度光电-BeamHere光斑分析仪通过测量光束质量参数,为激光技术在多领域的高效应用提供支撑。在工业加工领域,其亚微米级光斑校准能力有效优化切割、焊接及打标工艺,确保光束轮廓的一致性,从而保障加工质量。在医疗领域,该设备用于眼科准分子激光手术设备的校准,实时监测光束能量分布,确保手术的安全性。在科研场景中,它支持皮秒级脉冲激光测量,为物理与材料提供高精度数据,推动新型激光器件的。在光通信领域,该分析仪能够实现光纤端面光斑形态分析,保障光信号传输的稳定性。在农业与生命领域,通过分析激光诱变育种的光束参数,优化植物生长调控的效率。全系产品覆盖200-2600nm宽光谱范围,支持千万级功率测量,结合M²因子测试模块与AI分析软件,为各行业提供从光斑形态到传播特性的全链路检测方案,助力客户提升产品性能和生产效率。维度科技光斑分析仪发展无干涉条纹的光斑质量分析仪。

Dimension-Labs 维度光电相机式光斑分析仪系列覆盖 400-1700nm 宽光谱范围,实现可见光与近红外波段光斑的实时检测。其优势包括: 动态分析能力 支持 2D 光斑实时成像与 3D 功率分布动态显示,高帧率(100fps)连续测量模式可捕捉光斑瞬态变化,3D 视图支持任意角度旋转分析,为光学系统调试提供直观数据支持。 复杂光斑适应性 基于面阵传感器技术,可测量非高斯光束(如平顶、贝塞尔光束)及含高阶横模的复杂光斑,突破传统扫描式设备的局限性。 功率调节 标配 6 片不同衰减率的滤光片(0.1%-100%),通过转轮结构实现一键切换,可测功率达 10W/cm²,满足从弱光器件到高功率激光的全量程需求。 科研级扩展性 采用模块化设计,相机与滤光片转轮可分离使用。拆卸后的相机兼容通用驱动软件,支持科研成像、光谱分析等扩展应用,实现工业检测与实验室的一机多用。
维度光电提供光束质量测量解决方案,适用于工业、医疗、科研等多个领域。在工业制造中,用于激光切割和焊接的狭缝式分析仪能实时监测激光束能量分布,优化加工精度;半导体加工中,超高分辨率检测技术支持晶圆划片工艺优化。医疗健康方面,相机式分析仪用于眼科手术中激光参数优化,保障手术安全;M²因子模块用于医疗激光设备校准。领域,双技术组合用于解析飞秒激光特性,支持非线性光学。光通信领域,相机式分析仪优化光器件耦合效率,狭缝式分析仪确保激光器性能一致性。新兴领域如光镊系统和激光育种也受益于该方案。方案特点包括全场景适配、智能分析软件和模块化扩展,以满足不同需求和长期升级。可用于产线检测的光斑分析仪。

Dimension-Labs 推出的相机式光斑分析仪系列包含两个型号,覆盖 400-1700nm 宽光谱范围,实现可见光与近红外波段光斑的实时显示与分析。其优势如下: 宽光谱覆盖与动态分析 单台设备即可满足 400-1700nm 全波段测量需求,支持 2D 光斑实时成像与 3D 功率分布动态分析。高帧率连续测量模式下,可实时捕捉光斑变化并生成任意视角的 3D 视图,为光学系统调试、动态测试及时间监控提供直观数据支持。 复杂光斑适应性 基于面阵传感器的成像原理,可测量非高斯分布光束(如平顶、贝塞尔光束)及含高阶横模的复杂光斑,突破传统扫描式设备的局限性。 功率调节系统 标配 6 片不同衰减率的滤光片,通过独特的转轮结构实现功率范围扩展,可测功率提升 100 倍。一键切换滤光片设计简化操作流程,兼顾宽量程与高精度需求。 科研级功能拓展 采用模块化可拆卸设计,光斑分析相机与滤光片转轮可分离使用。拆卸后的相机兼容通用驱动软件,支持科研成像、光谱分析等扩展应用,实现工业检测与实验室的一机多用。光束质量M2怎么测量?光束直径光斑分析仪价格多少
光斑分析仪如何测量 M² 因子?激光发散角光斑分析仪
维度光电深刻认识到高功率光束检测在激光应用中的性和难度。大多数光斑分析仪使用的面阵传感器在**功率下就会饱和,而常规激光器功率普遍较高,这使得大功率光束检测成为激光应用的难点。为解决这一问题,维度光电推出 BeamHere 光斑分析仪系列和大功率光束取样系统。扫描狭缝式光斑分析仪凭借创新的狭缝物理衰减机制,可直接测量近 10W 高功率激光,保障了测试过程的安全与高效。为应对更高功率,又推出单次和双次取样配件,可叠加使用形成多次取样系统。搭配合适衰减片,可测功率超 1000W。单次取样配件 DL - LBA - 1,取样率 4% - 5%,采用 45° 倾斜设计和 C 口安装,有锁紧环可固定在任意方向测量不同角度入射激光;双次取样配件 DL - LBA - 2,取样率 0.16% - 0.25%,内部两片取样透镜紧凑安装,能应对 400W 功率光束,多面体结构便于工业或实验环境安装。组合安装配件可获得高衰减程度,实现更高功率激光测量。同时,其紧凑结构设计的取样光程满足聚焦光斑测量,单次 68mm,双次 53mm,为激光生产提供了强大的检测支持。激光发散角光斑分析仪

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