北京精密测量仪方法

可通过E32U接口将所有测头硬接线到机床CNC上。如果是机械加工中心或带有自动刀具更换（ATC）系统的铣床上的零件探针应用，或者是将探针安装在转塔刀架中的机床加工应用，红外线（VOS光学主轴探针）与无线电（WRS无线电主轴探针）传输系统**着理想的解决方案。用于加工中心的零件检查和刀具安装的光学传输系统：即便在**复杂的操作环境中，光学传输接触式测头可使机械加工中心更有效率并且提高了自动化程度，从而缩短周期时间以及降低报废件百分比。零件定位与对准操作使得用户不再需要对零件进行任何操作。除自动化的零件尺寸检测外，马波斯SW还为机床CN提供了后来机械加工流程所需的所有反馈。由于适当优化的软件周期和易于理解的图形界面，操作员/机器集成过程是即时的。可自动获取工件的直径或长度值，分析噪声，将程控阈值与各种值比较，以便操作员/机床做出决定。北京精密测量仪方法

与马波斯测量头相连的新电子测量仪P1Dme对于磨床而言是一个经济、紧凑、实用与可靠的解决方案。P1Dme控制着磨削过程中的零件尺寸。它是一个扁平的紧凑测量仪，带有盖板玻璃触屏，很容易将其安装在任何磨床上，以实现平滑的零件控制。新的人机界面直观，旨在让操作员的每日作业变得简单。当与马波斯测量头连接时，P1dme可控制各类磨床中的零件尺寸。测量仪测量了磨削过程中远离的零件余量。操作员可将触屏显示器用于零件状态实时检查以及数据编程。测量仪也呈现了机床控制系统的信号，以管理砂轮进给。因为配有新的直观人机界面，所以很容易完成标准件与机床补偿的每日操作。福建机床在线检测测量仪精度BLÚ LT单元可以直接承载2个或4个功能节点，能保证测量系统与机器和公司网络之间大程度集成。

马波斯的非接触式激光尺寸测量技术值得信赖。激光测量仪已被应用于机械行业的大量生产工艺，包括导线、电缆和光纤生产以及塑料挤出成形等其它工业领域。国际空间站（ISS）上所配的激光测量仪可测量直低至为30微米（千分之三十毫米）的被测物体，测量重复精度（精度）可达30纳米，在特殊环境中中可确保光纤生产达到更高质量标准。其中Aeroel是集团中提供精密激光测量仪的一个产品线。其激光测量仪成功入选并整合在国际空间站（ISS）的全自动光纤产线上

P7是一个多功能装置，在模块化尺寸的单一结构中，可以管理驱动磨削过程所需的主要控制功能：过程中和过程后的测量、砂轮的平衡、冲击轮/工件、砂轮/金刚石或意外冲击引起的噪声分析，控制工作环境温度或工件或特定的机械零件，进行变形分析，评估作用力，控制所有变量，确保机器正常运行。P7多功能性的一个特点是与机器控制单元接口的均匀性。 装置的控制功能始终有相同类型的接口和相同的规则：物理I/O、现场总线、以太网。显示器有一个单独的接口，可以是配套显示器，也可以是安装在PC机上的程序。该装置还有一个功能提供了详细信息，说明如何改进所监测的各种参数，以允许终端用户认证生产并监测机器本身的使用寿命。FenarL系统可自动测量周期，测量灵活，磨损补偿灵活性，简单再加工，加工速度快，圆度检查。

Marposs设计的用户界面基于先进的表示方法，实际上，这些表示方法使用的开发环境与为消费者标记创建界面所用的开发环境相同。这确保了与设备交互的用户能够找到与市场上其他设备（触摸屏、各种软件级别的组织、类似的图形对象等）相同的性能。软件均包可根据所用设备的结构、客户的要求和必要的通信方法进行配置。Marposs生产的设备可根据硬件/软件配置进行划分：有“单功能设备”管理单一类型的控制，并允许低程度的定制和外部接口；有大扩展可能性的系统“多功能/多任务设备”，可执行各种控制类型，具有更复杂的周期和更大的外部信息交换。图形选项有各种级别，从简单的状态或数字或条形图到时间图、直方图和图形。高精度车床测量仪厂家，请联系马波斯测量科技。北京精密测量仪方法

曲轴检查领域，马波斯Fenar L系统是测量主轴承轴颈直径与轴承销轴颈直径的理想选择，实现高灵活度与精确度。北京精密测量仪方法

统计过程控制规定了三个活动阶段：了解过程：必须在其行为中识别过程，并且必须明确规定每个受控特征的规格界限。可变性的特殊原因必须消除，以使过程稳定。使用控制图监控生产过程：这些图表用于及时检测受控特征的均值或方差的变化。控制图的目的是识别始终存在的可变性的常见原因，并将其与特殊原因区分开来。统计过程控制的目标不是检查零件是否良好，而是预测并防止生产出有缺陷的零件。为此，可将控制图作为预测工具，并确定可能导致生产出有缺陷的零件的原因。一旦控制图表示存在不稳定的过程（SPC警报），就必须采取措施控制生产，从而限制了部件不合格和生产线的减速。当控制图没有发出任何警报信号时，该过程可被视为“稳定”或“受控制”；其“过程能力”可以通过“能力研究”进行计算。过程能力是一种用来计算过程在未来指定限制时间内生产零件的能力的指数。**初的Shewart理论基于过程，其特征*由一种正态分布进行描述。随着时间的推移，统计过程控制的能力得到了改进，能够（使用Pearson控制图）分析不同分布描述的连续特征，（使用P控制图和NP控制图）分析离散特征，以及（使用C控制图）和U控制图）分析具有多个缺陷的离散特征。北京精密测量仪方法