深圳离线AOI检测仪

图像采集阶段（光学扫描和数据收集）AOI的图像采集系统主要包括光电转化摄影系统，照明系统和控制系统三个部分。因为摄影得到的图像被用于与模板做对比，所以获取的图像信息准确性对于检测结果非常重要，可以想象一下，如果图像采集器看不清楚或看不到被检测物体的特征点，那么也就无法谈到准确的检出。下面我们对光电转化摄影系统，照明系统和控制系统三个部分逐一分析介绍。首先，光电转化摄影系统指的是光电二极管器件和与之搭配的成像系统。是获得图像的”眼睛”,原理都是光电二极管接受到被检测物体反射的光线，光能转化产生电荷，转化后的电荷被光电传感器中的电子元件收集，传输形成电压模拟信号。二极管吸收光线强度不同时生成的模拟电压大小不同，依次输出模拟电压值被转化为数字灰阶0-255值，灰阶值反映了物体反射光的强弱，进而实现识别不同被检测物体的目的。 AOI检测元器件的过程就是模拟人工目视检查SMT元器件。深圳离线AOI检测仪

AOI检测可用于测量和错误检测的复杂检测任务基于被识别物体的特征，AOI系统可根据即将发生的问题承接光学测量任务，并确定与这些标准的任何偏差。工业机器视觉始终关注所谓的灰度值偏差。灰度值表示像素的亮度，与颜色无关。根据这个灰度偏差的配置方式，您将可应用于：分拣物品（食品、商品）检测问题（划痕、截留）测量尺寸（包裹、O型圈）检查表面（菲林、玻璃）或者检查电路板（用于正确布置焊接点）灵活应用于不同场合您可在生产过程中的各个节点设置自动光学检测（AOI检测），以适应特定的需要：直接在生产中设置或作为包装过程的组成部分；既可以进行100％的控制，也可以进行试错法测试。使用具有高帧速率且功能强大的工业相机，您将可在不中断生产流程的情况下进行检测。北京自动AOI光学检测经过波峰焊后，焊点所有的参数会有很大的变化，这主要是由于焊炉内锡的老化导致焊盘反射特性从光亮到灰暗。

AOI图像采集的一个关键步骤是控制系统，光电传感器的FOV（视窗）有限，物体高速运动中准确地抓拍到清晰的图像，软硬件协调动作非常重要，如下图所示，当图像传感器与机台移动速度不匹配时造成图像的拉伸，收缩等变形，所以，载物移动平台XY方向移动与图像采集光电传感器的同步移动影响到数据的准确，要在固定光照，等间距下拍摄一幅清晰的图像，高精度的导轨，电机和运动控制程序是非常必要的。在AOI检测中，噪声是造成图像退化的因素之一，起因是AOI图像获取，传输过程中，外界杂散光，光电二极管电子噪声及温度，光源的不稳定不均匀，机械系统的抖动，传感器温度等原因导致，不可避免的使得图像因含有噪音而变得模糊。给图像识别，图像切割等后续处理工作带来了困难。因此，为了获得真实的图像信息，除去噪声的滤波处理必不可少。

AOI检测原理:通过摄像技术将被检测物体的反射光强，以定量化的灰阶值输出，通过与标准图像的灰阶值进行比较，分析判定缺陷并进行分类的过程。AOI采用的光学传感器和光学透镜相当于人眼，AOI的图像处理与分析系统就相当于人脑，即“看”与“判”两个环节，在整个AOI检测中，其工作逻辑可以简单地分为：Step1：图像采集阶段（光学扫描和数据收集）；Step2：数据处理阶段（数据分类与转换）；Step3：图像分析段（特征提取与模板比对）；Step4：缺陷报告阶段四个阶段（缺陷大小类型分类等）。在整个AOI系统运作中，所有的判定基础都是基于摄影得到的图像，因为摄影得到的图像被用于与系统中的模板做对比，所以获取图像信息的精确性对于检测结果非常重要！若图像采集器看不清楚或看不到被检测物体的特征点，那么也就无法谈到准确的检出。 AOI设备是高度定制化产品，设备厂商往往需要根据下游客户的要求进行主机设备的调整或是软件的二次开发。

AOI对产品走下生产线时的比较终状态进行监控。当生产问题非常清楚、产品混合度高、数量和速度为关键因素的时候，优先采用这个目标。AOI通常放置在生产线比较末端。在这个位置，设备可以产生范围大范围的过程控制信息。过程跟踪使用检查设备来监视生产过程。典型地包括详细的缺陷分类和元件贴放偏移信息。当产品可靠性很重要、低混合度的大批量制造、和元件供应稳定时，制造商优先采用这个目标。这经常要求把检查设备放置到生产线上的几个位置，在线地监控具体生产状况，并为生产工艺的调整提供必要的依据。虽然AOI可用于生产线上的多个位置，各个位置可检测特殊缺陷，但AOI检查设备应放到一个可以尽早识别和改正比较多缺陷的位置。AOI检测仪优点是图像的还原性较好，打光角度容易调易得到较清晰的图像，相比线阵相机误判率较低。东莞炉前AOI品牌

AOI检测方式分为离线半自动检测和在线自动检测两种形式，从而实现生产制程的过程控制。深圳离线AOI检测仪

AOI检测设备中常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长，测量三维物体形貌与高度也正成为AOI检测的新需求。（下图为侧光源与同轴光源实例） 深圳离线AOI检测仪

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