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DDR测试信号完整性测试销售厂

关键词: DDR测试信号完整性测试销售厂 信号完整性测试

2025.12.20

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8英寸长均匀微带线的ADS建模,所示简单模型的带宽为~12GHz。所示为描述传输线的较好简单模型,是基板上的一条单一迹线,长度为8英寸,电介质厚度为60密耳,线宽为125密耳。这些参数都是直接从物理互连上测得的。较好初我们不知道叠层的总体介电常数和体积耗散因数。我们有测得的插入损耗。所示为测得的互连插入损耗,用红圈标出。这与前文中在TDR屏幕上显示的数据完全一样。分析中也采用相位响应,但不在此显示。在这个简单的模型中有两个未知参数,即介电常数和耗散因数,我们使用ADS内置的优化器在所有参数空间内搜索这两个参数的比较好拟合值,以匹配测得的插入损耗响应与模拟的插入损耗响应。中的蓝线是使用4.43的介电常数值和0.025的耗散因数值模拟的插入损耗的较好终值。我们可以看到,测得的插入损耗和模拟的插入损耗一致性非常高,达到约12GHz。这是该模型的带宽。相位的一致性更高,但不在此图中显示。通过建立简单的模型并将参数值拟合到模型中,以及利用ADS内置的二维边界元场解算器和优化工具,我们能够从TDR/TDT测量值中提取叠层材料特性的准确值。我们还能证明,此互连实际上很合理。传输线没有异常,没有不明原因的特性,至少在12GHz以下不会出现任何意外情况。克劳德实验室信号完整性测试软件提供项目;DDR测试信号完整性测试销售厂

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信号完整性分析数据中心利用发射系统和接收系统之间的通道,可以准确有效地传递有价值的信息。如果通道性能不佳,就可能会导致信号完整性问题,并且影响所传数据的正确解读。因此,在开发通道设备和互连产品时,确保高度的信号完整性非常关键。测试、识别和解决导致设备信号完整性问题的根源,就成了工程师面临的巨大挑战。本文介绍了一些仿真和测量建议,旨在帮助您设计出具有优异信号完整性的设备。处理器(CPU)可将信息发送到发光二极管显示器,它是一个典型的数字通信通道示例。该通道—CPU与显示器之间的所有介质—包括互连设备,例如显卡、线缆和板载视频处理器。每台设备以及它们在通道中的连接都会干扰CPU的数据传输。信号完整性问题可能包括串扰、时延、振铃和电磁干扰。尽早解决信号完整性问题,可以让您开发出可靠性更高的高性能的产品,也有助于降低成本。测量信号完整性测试联系方式信号完整性测试设计重要性;

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信号校准服务默认情况下,当矢量网络分析仪(VNA)开启时,其参考平面位于前面板。将电缆连接到被测设备时,校准参考必须使用短路-开路-负载-直通法(SOLT)、直通反射线或直通反射匹配参考结构。SOLT是常见的方法。电缆可以直接连接到DUT或夹具。夹具安装在电缆和DUT之间,有助于兼容不同类型的连接器,例如HDMI、显示端口、串行ATA和PCIExpress。在本示例中,校准参考面包括电缆,而去嵌入参考面包括夹具。将校准误差校正和去嵌入相结合时,必须包括通道中与DUT的所有互连。连接DUT后,您就可以进行测量,并执行测量后(去嵌入)误差校正。

4.系统模型及分类a.连续时间系统与离散时间系统:若系统的输入和输出都是连续时间信号,且其内部也未转化为离散时间信号,则称此系统为连续时间系统。若系统的输入和输出都是离散时间信号,则此系统为零散时间系统。混合系统:离散时间系统和连续时间系统的组和。b.即时系统与动态系统:如果系统的输出信号只决定于同时刻的激励信号与他过去的工作状态无关,则此系统为即时系统。如果系统的输出信号不仅取决于同时刻激励信号,而且与他过去的工作状态有关,这种系统称为动态系统。c.集总参数系统与分布参数系统:由集总参数软件组成的系统,是集总参数系统。含有分布参数元件的系统是分布参数系统。其中集总参数系统用常微分方程作为数学模型,分布参数系统用偏微分作为模型d.线性系统与非线性系统:具有叠加性与均匀性的系统称为线性系统。不满足叠加性和均匀性的系统则为非线性系统。e.时变系统与时不变系统:如果系统的参数不随时间而变化,则此系统为时不变系统,如果系统的参量随时间变,则系统为时变系统。f.可逆系统与不可逆系统:由系统在不同的激励信号下产生不同的响应,则系统为可逆系统。否则为不可逆系统。测试信号完整性测试问题有哪些?

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转换成频域的TDR/TDT响应:回波损耗/插入损耗。蓝线是参考直通的插入损耗。当然,如果有一个完美直通的话,每个频率分量将无衰减传播,接收的信号幅度与入射信号的幅度相同。插入损耗的幅度始终为1,用分贝表示的话,就是0分贝。这个损耗在整个20GHz的频率范围内都是平坦的。黄线始于低频率下的约-30分贝,是同一传输线的回波损耗,即频域中的S11。绿线是此传输线的插入损耗,或S21。这个屏幕只显示了S参数的幅度,相位信息是有的,但没有显示的必要。回波损耗始于相对较低的值,接近-30分贝,然后向上爬升到达-10分贝范围,约超过12GHz。这个值是对此传输线的阻抗失配和两端的50欧姆连接的衡量。插入损耗具有直接有用的信息。在高速串行链路中,发射机和接收机共同工作,以发射并接收高比特率信号。在简单的CMOS驱动器中,一个显示误码率之前可能可以接受-3分贝的插入损耗。对于简单的SerDes芯片而言,可以接受-10分贝的插入损耗,而对于先进的高级SerDes芯片而言,则可以接受-20分贝。如果我们知道特定的SerDes技术可接受的插入损耗,那就可以直接从屏幕上测量互连能提供的比较大比特率。克劳德实验室数字信号完整性测试进行抖动分析;北京信号完整性测试配件

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ADC位数和小分辨率模数转换器(ADC)是确保示波器自身信号完整性的关键技术。ADC位数与示波器的分辨率成正比。理论上讲,10位ADC示波器的分辨率比8位ADC示波器高4倍。同理,12位ADC示波器相对于10位ADC示波器也是如此。图2以10位ADCInfiniiumS系列示波器为例,实际验证了上述结论。

多数示波器都是采用8位ADC,而S系列示波器采用的是40GSa/s10位ADC,分辨率提升了四倍。分辨率是指由示波器中的模数转换器(ADC)所决定的小量化电平。8位ADC可将模拟输入信号编码为28=256个电平,即量化电平或Q电平。ADC在示波器量程内工作,因此在电流和电压测量中,量化电平的步长与示波器的量程设置有关。如果垂直设置为100mV/格,则量程等于800mV(8格x100mV/格),量级电平分辨率就是3.125mV(即,800mV除以256个量化电平)。 DDR测试信号完整性测试销售厂

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