中国台湾半导体GDBC工具

在晶圆制造过程中，制程偏差是导致良率损失的主要因素之一，其典型表现即为晶圆上Die的区域性集群失效。此类失效并非随机分布，而是呈现出与特定制程弱点紧密相关的空间模式，例如由光刻热点、CMP不均匀或热应力集中所导致的失效环、边缘带或局部区块。然而，一个更为隐蔽且严峻的挑战在于，在这些完全失效的Die周围，往往存在一个“受影响区”。该区域内的Die虽然未发生catastrophicfailure，其内部可能已产生参数漂移或轻微损伤，在常规的CP测试中，它们仍能满足规格下限而呈现出“Pass”的结果。这些潜在的“薄弱芯片”在初期测试中得以幸存，但其在后续封装应力或终端应用的严苛环境下，早期失效的风险将明细高于正常芯片。为了将这类“过测”的潜在失效品精确识别并剔除，避免其流出至客户端成为可靠性隐患，常规的良率分析已不足以应对。必须借助特定的空间识别算法，对晶圆测试图谱进行深度处理。

上海伟诺信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精确的算法能够通过分析失效集群的空间分布与形态，智能地推断出工艺影响的波及范围，并据此将失效区周围一定范围内的“PassDie”也定义为高风险单元并予以剔除。这一操作是构建高可靠性产品质量防线中至关重要的一环。 Mapping Over Ink处理系统输出结构化日志，完整记录处理过程满足质量追溯需求。中国台湾半导体GDBC工具

在封测工厂的日常运营中，良率波动往往源于测试数据分散、格式不一或异常信息未被及时识别。YMS系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台，高效采集stdf、csv、log、txt等多种格式的原始测试数据，并完成重复性检测、缺失值识别与异常数据过滤，确保后续分析基于准确、完整的数据基础。通过标准化数据库对数据统一分类，系统支持从时间序列追踪良率趋势，或从晶圆区域对比缺陷分布，快速定位工艺偏差。SYL与SBL参数的自动计算与卡控机制，进一步强化了质量防线。灵活的报表工具可按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF，满足从产线到管理层的信息需求。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续深耕半导体软件领域，其YMS系统已成为封测企业实现质量闭环管理的重要支撑。湖南MappingOverInk处理系统定制Mapping Over Ink处理提升车规级芯片的长期可靠性，满足严苛环境要求。

在智能制造转型背景下，YMS已不仅是数据分析工具，更是连接测试与工艺优化的中枢系统。系统实时汇聚来自ETS364、STS8107、93k等平台的测试结果，自动完成结构化清洗与整合，消除信息孤岛。标准化数据库支持动态监控良率变化，例如识别某机台连续三批边缘区域良率偏低，触发设备校准预警。SYL/SBL卡控功能则在指标超限时自动拦截异常批次，防止不良品流入下一环节。报表引擎支持按产品线、客户或班次生成定制化报告，适配不同管理层的信息需求。这种“采集—分析—干预—反馈”的闭环机制，明显提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司以打造中国半导体软件生态为使命，持续完善YMS的集成能力。

当封测厂同时运行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余种Tester设备时，不同平台输出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式数据往往难以统一处理。YMS系统通过内置的多协议解析引擎，自动识别并适配各类测试平台的数据结构，将异构原始数据转换为标准化内部格式，消除因设备差异导致的信息割裂。模块化接口设计确保新增设备可快速接入，无需重构系统架构。这种“即插即用”的兼容能力，使企业能集中管理全产线测试数据，避免为不同平台维护多套分析流程。数据采集的稳定性与实时性由此得到保障，为后续良率分析奠定一致基础。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续优化YMS的平台兼容性，支撑客户在复杂设备环境中实现高效数据治理。Mapping Over Ink处理明显降低早期失效率，减少封装环节的潜在失效风险。

在高频测试场景下，重复提交或设备通信中断常导致数据冗余或缺失，直接影响良率计算准确性。YMS系统通过时间戳、测试编号、晶圆ID等关键字段自动扫描数据集，识别完全重复或部分重叠的记录，并予以合并或剔除；同时检测关键参数字段是否为空，快速定位缺失节点并提示修正。该机制嵌入数据清洗流程，与异常值过滤协同工作，确保进入分析环节的数据集完整、干净、无偏。例如，当某批次CP测试因机台故障中断后重跑，系统可自动识别并保留有效片段，避免重复计数拉低整体良率。这种自动化质量控制大幅降低人工核查负担，提升决策可靠性。上海伟诺信息科技有限公司将数据完整性视为YMS的关键能力之一，持续强化其在复杂生产环境中的鲁棒性。Mapping Over Ink处理通过空间分析有效识别外观损伤引起的隐性失效，提升可靠性。中国台湾半导体GDBC工具

Mapping Over Ink处理支持txt与原始Probe格式双向转换，满足多样化数据需求。中国台湾半导体GDBC工具

半导体测试是半导体制造过程中质量的一道关键防线，扮演着日益关键角色，单纯依赖传统电性测试的“通过/失败”界限，已无法满足对产品“零缺陷”的追求。为了大力提升测试覆盖度，构筑更为坚固的质量防线，采用GDBN技术来识别并剔除那些位于“不良环境”中的高风险芯片，已成为车规、工规等类产品不可或缺的必要手段。

细化需求。

为此，上海伟诺信息科技有限公司为客户提供了一套包含多重GDBN算法的综合解决方案，该方案具备高度的灵活性与强大的适应性，能够精确满足半导体设计公司与CP测试厂对提升产品可靠性的关键诉求，成为客户应对高质量挑战的可靠伙伴，共同构筑面向未来的半导体质量防线。 中国台湾半导体GDBC工具

上海伟诺信息科技有限公司汇集了大量的优秀人才，集企业奇思，创经济奇迹，一群有梦想有朝气的团队不断在前进的道路上开创新天地，绘画新蓝图，在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的信誉，信奉着“争取每一个客户不容易，失去每一个用户很简单”的理念，市场是企业的方向，质量是企业的生命，在公司有效方针的领导下，全体上下，团结一致，共同进退，**协力把各方面工作做得更好，努力开创工作的新局面，公司的新高度，未来和您一起奔向更美好的未来，即使现在有一点小小的成绩，也不足以骄傲，过去的种种都已成为昨日我们只有总结经验，才能继续上路，让我们一起点燃新的希望，放飞新的梦想！