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常州非接触式高温计调试

关键词: 常州非接触式高温计调试 高温计

2026.03.12

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EX-SMART-F 系列双色红外测温仪的峰值取样功能,专为克服氧化物对测量的干扰设计,适用于金属加热、锻造等氧化物易生成的场景。该功能支持开启(On)/ 关闭(Off)切换,默认关闭,开启后可通过两项参数准确控制:峰值能量百分比(2C Peak Level)与峰值下降时间(2C Peak Drop)。峰值能量百分比设定范围 5%~90%,默认 50%,只有当信号能量高于峰值的设定百分比时,采样值才有效,可过滤氧化物生成导致的低能量干扰信号;峰值下降时间设定范围 0.1s~9.9s,默认 1.0s,定义峰值信号下降到 0 的时间,确保稳定捕捉有效温度。例如在钢铁锻造中,工件表面生成氧化皮导致信号波动,开启峰值取样功能,设峰值能量百分比 60%、下降时间 1.5s,可准确捕捉工件本体温度,避免氧化皮干扰。STRONG 系列仪器检定可参考 JJG 856-2015《工作用辐射温度计》规程。常州非接触式高温计调试

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常州思捷光电科技有限公司的核心竞争力源于自主研发的红外测温技术。我们的产品采用 PID 恒温控制探测器,搭配全量程的温度补偿,可避免环境温度对测量精度的干扰。双色测温产品更是突破技术瓶颈,在灰尘、小目标遮挡、发射率不确定等环境中,即便信号衰减 95% 仍能准确测温。同时,特殊设计的窄带红外滤片,大幅度降低发射率变化的影响,配合可调焦光学镜头,实现高光学分辨率下的稳定测量,多项技术获实用新型专利与软件著作权认证。常州非接触式高温计调试红外测温仪的供电范围 20~32V,适配工业常用电源。

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红外测温仪的校准需遵循严格标准,思捷采用 “标准黑体炉校准法”,符合 JJG 856-2015《工作用辐射温度计》检定规程。校准过程分为三步:首先将设备预热 10 分钟,恢复出厂参数(单色发射率设为 0.990~1.000,双色斜率设为 1.000);然后将测温仪对准标准黑体炉(发射系数≥0.999),在不同温度点(如 500℃、1000℃、2000℃)记录测量值与黑体炉标准值的偏差;通过软件调整满度与零点补偿(如 EX-SMART 系列的 SF、SO 参数),使偏差控制在 ±0.5% T 以内。思捷还为用户提供校准建议:常规工业场景建议每 6 个月校准一次;高精度场景(如半导体、科学实验)建议每 3 个月校准一次;若设备经历剧烈冲击、长期在恶劣环境使用,需缩短校准周期。此外,思捷拥有十多台进口 / 国产标准黑体炉(辐射温度覆盖 - 50℃~3000℃),可为用户提供专业校准服务,确保设备长期保持高精度状态。

有色金属(如铝、铜、锌)的冶炼过程中,被测材料的发射率较低(铝的发射率 0.02~0.4),且表面易氧化(氧化后发射率升高),传统红外测温仪易因发射率变化导致测量误差。常州思捷的 STRONG 系列双色红外测温仪与 MARS 系列单色红外测温仪,通过针对性的技术设计,实现有色金属冶炼过程的准确测温。在铝锭加热环节,铝锭需加热至 500℃~600℃的轧制温度,其表面发射率约为 0.2~0.3,且加热过程中局部氧化会导致发射率升高至 0.4。此时选用 STRONG-GR 系列双色红外测温仪(250℃~2600℃),其双色模式通过两个波长的能量比值计算温度,发射率变化对比值影响极小 —— 即使铝锭表面氧化导致发射率从 0.2 升至 0.4,测量误差仍可控制在 ±0.5% T 以内,远低于单色仪的 ±2% 误差。设备的距离系数 60:1~100:1,可适配铝锭加热炉的中距离测温(如 3 米外测量 100mm 直径的铝锭),避免高温辐射对设备的损伤。红外测温仪的测量光斑随距离变化,需匹配目标大小。

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半导体制造的晶圆加工、薄膜沉积等环节,对温度精度要求更高。EX-SMART 系列光纤双色红外测温仪(350℃~3300℃)三模式测温,可根据不同工艺阶段切换模式,1ms 超快速响应捕捉晶圆温度细微变化,避免因温度波动导致的电路缺陷。其抗电磁干扰设计与耐高温光纤,适配半导体制造的复杂电磁环境与高温工艺,配合 RS485/RS232 通讯接口,实现温度数据与自动化系统无缝对接,助力半导体企业提升生产效率与产品良率。此外,思捷光电与高校、行业前沿企业合作,持续优化产品性能,为新能源产业测温需求提供更前沿的解决方案。双色模式下测量绝大多数灰体材料时无需修正双色系数。常州非接触式高温计调试

STRONG-GR 系列比色测温仪采用 InGaAs/InGaAs(叠层铟镓砷)探测器。常州非接触式高温计调试

MARS-F 系列单色光纤红外测温仪专为高温、强电磁干扰环境设计,通过耐高温光纤传导光学信号,关键部件与高温区域隔离,光纤及镜头可承受 250℃高温,无需额外冷却,适配铸造、感应加热、高温炉等极端工况。该系列分为 MARS-FS(Si 探测器)、MARS-FG(InGaAs 探测器)及 MARS-EXG(扩展型 InGaAs 探测器),测温范围覆盖 200℃~3000℃,分段满足不同温度需求。关键性能方面,测量精度达 ±0.5% T,分辨率 0.1℃,重复精度 ±2℃,响应时间 5ms~99.99s 可调,可定制至 3ms,能捕捉快速温度变化。距离系数涵盖 100:1、200:1,搭配 M25 调焦镜头,在 150mm~5000mm 测量距离内,光斑直径小可达 0.75mm,适配小目标测量。特殊设计的窄带红外滤片,大幅降低发射率变化对测量的影响,提升数据稳定性。常州非接触式高温计调试

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