PAT平台

分散在不同Excel表格或本地数据库中的测试数据，往往难以跨项目调用和对比。YMS通过构建标准化数据库，将来自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等设备的异构数据，按产品型号、测试阶段、时间、区域等维度统一归档，形成结构清晰、索引完备的数据资产池。用户可通过多条件组合快速检索特定批次的历史良率记录，或横向比较不同封装线的表现。标准化存储不仅提升查询效率，更为WAT/CP/FT参数联动分析、SYL/SBL卡控等高级功能提供一致数据源。跨部门协作时，设计、工艺与质量团队可基于同一套数据开展讨论，减少信息偏差。上海伟诺信息科技有限公司依托行业经验，使YMS成为企业构建数据驱动文化的基础设施。PAT模块与GDBC算法协同区分随机噪声与系统性缺陷，提升筛选精确度。PAT平台

当多台测试设备同时产出异构数据时，传统人工整合方式不仅耗时，还易引入误差。YMS系统通过自动化流程，将来自ETS364、STS8200、TR6850等设备的spd、jdf、zip等格式数据统一解析、清洗并结构化存储，构建一致的数据底座。在此基础上，结合WAT、CP、FT等关键测试阶段的参数变化，系统能够揭示影响良率的深层关联，辅助工程师精确调整工艺窗口。多维度可视化图表让晶圆级缺陷热力图、批次良率走势一目了然，明显缩短问题响应周期。报表功能支持按需定制并导出多种办公格式，提升跨部门协同效率。SYL/SBL的实时卡控能力，则有效预防批量性质量风险。上海伟诺信息科技有限公司秉持“以信为本，以质取胜”的宗旨，致力于打造适配国产半导体生态的智能良率管理工具。宁夏半导体GDBC工具Mapping Over Ink处理支持结果回溯，便于客户验证和审计分析结果。

当CP良率骤降而FT失败模式复杂时，只靠单一测试阶段数据难以归因。YMS系统将WAT、CP与FT参数统一纳入分析框架，建立跨阶段关联模型。例如，若某批次WAT中栅氧击穿电压偏移，同时CP漏电流异常升高，YMS可自动关联两者趋势，提示前道氧化工艺可能存在波动。图形化界面支持并排查看参数曲线与良率变化，快速锁定关键影响因子，避免在封装或测试环节盲目排查。这种端到端的根因分析能力，将问题诊断周期从数天缩短至数小时，减少试产浪费。上海伟诺信息科技有限公司通过深度整合多源测试数据，使YMS成为良率攻关的关键工具。

在半导体工厂高频率、多设备并行的测试环境中，人工处理异构数据极易延误问题响应。YMS系统通过自动化流程，实时汇聚来自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等设备的多格式原始数据，完成统一解析与清洗，消除因格式差异导致的信息断层。结构化的数据库使良率数据可追溯、可比对，支持从批次到晶圆级别的精细监控。当某一批次良率骤降时，系统可迅速调取对应区域的缺陷热力图，并关联WAT、CP、FT参数变化，辅助工程师在数小时内锁定根本原因。SYL/SBL卡控功能则在指标超限时自动预警，防止不良品流入下一环节。周期性报表一键生成并支持多格式导出，满足从产线到高管的差异化信息需求。上海伟诺信息科技有限公司凭借对封测与制造场景的深入理解，持续优化YMS的数据驱动能力。GDBC聚类结果支持根因快速定位，加速工艺问题解决效率。

面对国产半导体制造对自主可控软件的迫切需求，良率管理系统成为打通数据孤岛、实现质量闭环的关键工具。系统自动采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台输出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多种格式测试数据，通过内置算法识别重复项、缺失值并过滤异常记录，确保后续分析基于高可信度数据源。在标准化数据库支撑下，企业可从时间维度追踪良率趋势，或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布，快速定位工艺波动点。结合WAT、CP与FT参数的联动分析，进一步揭示影响良率的深层原因。SYL与SBL的自动计算与卡控机制，强化了过程质量防线。灵活的报表工具支持按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF格式，提升跨部门协同效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，专注打造适配本土需求的YMS系统，助力构建中国半导体软件生态。失效Die的空间分布特征是判断工艺问题的关键依据，指导制程参数优化。内蒙古半导体Mapping Inkless服务

Mapping Over Ink处理实现测试通过率与长期可靠性双重保障，平衡质量与产出效率。PAT平台

芯片制造过程中，良率波动若不能及时识别，可能导致整批产品报废。YMS系统通过自动采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平台输出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式测试数据，完成重复性检测、缺失值识别与异常过滤，确保分析基础可靠。标准化数据库支持从时间维度追踪良率趋势，或聚焦晶圆特定区域对比缺陷分布，快速定位工艺异常点。结合WAT、CP与FT参数的联动分析，可区分是设计问题还是制程偏差，大幅缩短根因排查周期。SYL与SBL的自动计算与卡控机制嵌入关键控制节点，实现预防性质量干预。灵活报表工具按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF，提升跨部门决策效率。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续优化YMS系统，助力芯片制造企业构建自主可控的质量管理能力。PAT平台

上海伟诺信息科技有限公司在同行业领域中，一直处在一个不断锐意进取，不断制造创新的市场高度，多年以来致力于发展富有创新价值理念的产品标准，在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的商业口碑，成绩让我们喜悦，但不会让我们止步，残酷的市场磨炼了我们坚强不屈的意志，和谐温馨的工作环境，富有营养的公司土壤滋养着我们不断开拓创新，勇于进取的无限潜力，携手大家一起走向共同辉煌的未来，回首过去，我们不会因为取得了一点点成绩而沾沾自喜，相反的是面对竞争越来越激烈的市场氛围，我们更要明确自己的不足，做好迎接新挑战的准备，要不畏困难，激流勇进，以一个更崭新的精神面貌迎接大家，共同走向辉煌回来！