江西PeroTrack原位光谱检测测量系统

“实时原位”环境模块：比色皿支架：标准的，可带磁力搅拌和温控。浸入式光纤探头：通用配置。可以插入任何开口的反应容器，甚至压铸在混凝土里，或通过活检针进行体内测量。显微镜载物台与活细胞工作站：这是生物成像的*原位平台。一个倒置荧光显微镜，载物台上安装一个环境控制小室，内部保持37°C、5% CO₂和湿度，细胞就在这个模拟的生理环境下生长，我们通过物镜从底下连续拍照，长达数小时甚至数天。微流控芯片平台：将化学反应或细胞培养集成到一块小小的芯片上，直接在显微镜下观察层流混合、浓度梯度刺激和单细胞捕捉后的实时荧光响应。实时原位荧光，观测聚合、结晶与降解过程。江西PeroTrack原位光谱检测测量系统

光致发光方法分析应用1.组分测定例如，GaAs1-xPx是由直接带隙的GaAs和间接带隙的GaP组成的混晶，它的带隙随x值而变化。发光的峰值波长取决于禁带宽度，禁带宽度和x值有关因此，从发光峰峰值波长可以测定组分百分比x值。2.杂质识别根据特征发光谱线的位置，可以识别GaAs和GaP中的微量杂质。3.硅中浅杂质的浓度测定4.辐射效率的比较半导体发光和激光器件要求材料具有良好的发光性能，发光测量正是直接反映了材料的发光特性。通过光致发光光谱的测定不*可以求得各个发光带的强度，而且也可以到积分的辐射强度。在相同的测量条件下，不同的样品间可以求得相对的辐射效率。5.GaAs材料补偿度的测定补偿度NA/ND(ND，NA分别为施主、受主杂质浓度)是表征材料纯度的重要特征参数。6.少数载流子寿命的测定7.均匀性的研究测量方法是用一个激光微探针扫描样品，根据样品的某一个特征发光带的强度变化，直接显示样品的不均匀图像。8.位错等缺陷的研究。陕西旋涂过程PL监控原位光谱检测在线光谱系统，实时反馈薄膜厚度与相纯度。

带隙计算：PL峰位直接给出带隙，但更准确的做法是对PL高能边做拟合，因为低能边可能受带尾态影响。载流子温度提取：PL光谱的高能尾巴的斜率（对数坐标下）与载流子有效温度相关，可判断热载流子效应。 PLQY与准费米能级分裂 (QFLS)：这是原位PL在器件物理中 强大的应用。通过积分球测量光致发光量子产率 (PLQY)，即发出的光子数与吸收的光子数之比。根据细致平衡理论，钙钛矿层的内部QFLS分裂能直接由吸收系数和PL光谱形状及PLQY计算得出。原位测量器件工作状态下的PLQY，就能实时监测内部电压损失，判断是界面复合还是体相复合占主导。

研究人员也可以通过原位PL技术研究制备工艺中的冷却速率、真空工艺、狭缝模涂覆、真空辅助淬火及气体淬火等过程对钙钛矿薄膜质量的影响，继而进一步优化薄膜质量和器件性能。我司专为钙钛矿结晶动力学研究设计的原位PL测试设备：系统特点：1、实时测量发光材料制备时的原位光谱；2、原位光谱测量软件，可以实现时间趋势的原位光谱图和3D的光谱图；3、光谱数据到处和处理方便，可以直接截取拉伸感兴趣的测量区域；4、方便的数据导出；5、采用海洋光学的光谱仪，系统稳定可靠；6、光谱采集探头可实现高效收集，可避免污染。波长范围350-1100 nm（其他波长可定制）波长精度2 nm（其他精度可定制）激发光波长405 nm@100 mW信噪比3500:1。原位荧光显微镜，生命与材料科学通用利器。

原位环境集成：原位旋涂：将一个小型、非接触的光纤探头固定在旋涂仪正上方，透过观察窗，对准旋转中的基片中心。实时采集光谱，观看从液态到固态的毫秒级转变。原位热退火：将样品台替换为可控温热台，探头对准样品。可设置温度曲线，同步监测PL演变。原位工作器件测量：将完整的光伏器件封装好并连接源表，从透明电极一侧进行PL激发和收集。在施加不同偏压（V）下测量PL，尤其是测量发光峰处的强度，可以提取准费米能级分裂（QFLS），这是评估器件开路电压损失的方法。这需要将PL强度校正为光子数，需要用到积分球和已知发光效率的标准样品进行校准。气氛控制：所有上述部件可集成在手套箱内，或样品处于密闭的、可通入氮气/氧气的环境室中，以隔绝水氧。实时PL监控退火，优化钙钛矿薄膜质量。陕西旋涂过程PL监控原位光谱检测

实时荧光光谱追踪，看见每一个分子发光时刻。江西PeroTrack原位光谱检测测量系统

相关科研案例：

原位超快激光直写——在玻璃中“画”出多彩量子点研究单位：邱建荣教授团队主要成果：利用超快激光在玻璃内部实现钙钛矿纳米晶的原位3D直写，成果发表于《Science》。研究内容：原位可控制备：使用飞秒激光脉冲在掺杂金属氧化物的玻璃内部局部诱导结晶，形成钙钛矿纳米晶。组分调控：通过控制激光参数引起纳米相分离，在480-700 nm波长范围内，按需调控形成不同卤素组分的纳米晶。原位PL的角色：原位微区PL光谱是验证成果的关键。研究人员需对激光写入点进行原位PL扫描，以确认发光波长、强度和均匀性。

江西PeroTrack原位光谱检测测量系统