上海导电阳极丝测试系统研发

    AI算力SoC集成超千根高速IO引脚、NPU计算单元、PCIe/SerDes高速接口，晶圆CP测试是封装前关键筛选工序，提前剔除导通、时序、供电不良裸片，避免封装后高额报废损失，测试主要难点是高密度通道、高速时序精细校准、大功率稳定供电。海外高精SoCATE长期受出口管制，交付周期长达12个月，国内AI芯片量产进度被严重制约；多数国产设备数字通道上限不足1000路，无法覆盖2000引脚以上高精算力芯片；高速通道时序校准精度差，皮秒级偏移导致SerDes、PCIe接口功能误判；大功率芯片测试过程设备供电温漂严重，长时间量产参数一致性差；海外设备软件闭源，无法适配国内企业自研探针台、自动化产线系统，二次开发成本极高。GT600旗舰级SoC测试平台，比较大配置2048路高速数字通道，单通道测试速率400MHz，皮秒级全域时序自动校准，精细验证NPU、高速SerDes、PCIe接口电性功能；搭载多路大功率**供电模块，内置主动散热系统，长时间满载测试供电温漂可控；整机硬件、软件100%国产自研，无海外IP限制，开放完整底层API，可无缝对接国产探针台、晶圆自动化产线；国内整机现货交付，杭州总部储备全套备件，7×24小时技术团队远程+现场支持；晶圆级CP提前完成KGD合格裸片筛选。国磊G97-X200系统搭载大容量通用测试槽位，支持源表、高精度 AWG、高速数字 I/O、时序测量单元 TMU 混插配置。上海导电阳极丝测试系统研发

    MCU（微控制器，MicrocontrollerUnit）芯片作为嵌入式系统的主体，其战略地位和重要性在当今数字化、智能化的技术浪潮中愈发凸显。MCU广泛应用于汽车（占比约40%）、工业（20%）、消费电子（15%）等领域。以汽车为例，一辆传统燃油车需约70颗MCU，而智能电动车需求翻倍（如一辆特斯拉Model3就使用了约150颗MCU）。从技术维度来看，MCU充当了智能化时代的“神经末梢”。MCU集成了CPU、内存、外设接口等模块，具备低功耗、高实时性和低成本特性，是物联网（IoT）、工业自动化、消费电子等领域的基础硬件，构成了嵌入式系统的基石。随着AIoT发展，MCU逐步集成AI加速功能，能够在终端设备本地完成数据处理，减少云端依赖，提升响应速度并降低隐私风险，日益成为边缘计算的关键载体。随着从8位到32位MCU的演进（如ARMCortex-M系列）支持更复杂应用（如语音识别、图像处理），技术的迅速迭代不断推动着创新，因而也对ATE测试提出了新的挑战。以图示的一个较复杂的工业级MCU架构为例，一个完整的MCU包含了一个主CPU，一个R-IN引擎C**rmCortex-M3处理器，150MH频率），相应的多级存储单元、时钟单元、安全单元、模拟单元和各类逻辑即存储器接口等。针对不同的IP模块。 珠海GEN测试系统价位国磊G97-ADC -122dBc AWG 信号源，解决高精度 ADC 失真测试痛点。

    国磊全系列ATE设备采用行业主流标准化PXIe模块化架构，硬件支持板卡自由增减、灵活选配，提供8槽、18槽、36槽、72槽等多规格硬件配置，企业可根据自身测试需求、产品迭代节奏，按需搭配模拟源、数字通道、时序模块、高速接口模块，无需整机更换即可完成设备性能升级。相较于传统固定式架构测试设备，该模式极大降低了企业设备迭代成本，一台设备可覆盖从入门级模拟芯片到高精AISoC、堆叠芯片的全品类测试需求，适配企业产品多元化、技术迭代升级的长期发展规划。软件层面支持持续迭代更新，可适配新型芯片架构、全新测试标准、新增测试参数，保障设备长期可用性。模块化架构兼具灵活性、通用性、前瞻性，能够持续适配CPO光电集成、3D堆叠、异构集成等未来芯片技术趋势，大幅提升企业设备投资回报率，是芯片企业长期发展的比较好测试装备选择。

    针对工业控制、高精智能设备搭载的高性能MPU处理器芯片，其逻辑运算复杂、时序精度要求高、隐性缺陷排查难度大，国磊GT600ATE搭载大深度向量存储架构，单通道比较高支持128M向量深度，可完美适配高精MPU海量逻辑向量、复杂时序、多任务运算的测试需求。设备可精细加载大规模测试向量，多角度校验MPU内核逻辑运算精度、多线程任务处理稳定性、高速总线时序匹配性，精细定位传统测试设备难以排查的时序违规、逻辑漏洞、运算异常、瞬时失效等隐性缺陷。同时可同步完成MPU芯片电源功耗、模拟辅助模块、外设接口、存储系统的一体化测试，实现芯片硬件性能全维度校验。在芯片研发阶段，可深度挖掘底层硬件缺陷，助力研发团队优化芯片架构与时序设计；在量产阶段，可实现高精MPU芯片高覆盖率、高精度批量筛选，杜绝不良芯片流入终端市场，充分满足高精工业、智能设备对主控芯片的高可靠性要求。 国磊G97-X200高速并行测试能力，大幅提升量产吞吐效率。

    国磊全系列ATE设备搭载自研智能数据分析与存储系统，专为AI芯片高质量量产管控设计，具备全维度测试数据实时存储、智能分析、不良溯源、品质预警能力，完美适配云端算力集群、高精AI芯片的严苛品质管理与长期可靠性追溯需求。设备可完整记录每颗AI芯片的模拟参数、数字逻辑、时序精度、功耗特性、失效数据等全维度信息，形成单芯片专属测试档案，支持长期查询、溯源与复盘。系统可智能识别性能临界、参数劣化、波动异常的边缘不良芯片，提前筛选出隐性隐患产品，大幅降低终端设备DPPM故障率。同时支持测试数据可视化分析、良率趋势统计、失效问题分类汇总，帮助企业快速定位生产工艺、芯片设计的系统性问题，持续优化产品良率与品质。标准化数据输出格式可无缝对接企业品质管理系统，实现AI芯片量产全流程智能化、精细化品质管控。 国磊G97-ADC GI-SMU 系列浮动源表：±40V 中压 / 1000V 高压多版本，四象限精密源测，纳安级漏电检测。广州PCB测试系统批发

国磊数模混合 ATE 兼容 ADC+MCU 集成信号链芯片测试，同步完成模拟失真采集、数字通信 SPI/I2C/LVDS 完整性校验。上海导电阳极丝测试系统研发

    Fabless芯片设计企业流片后样品数量少、迭代速度快，实验室需要小型化、灵活易用的ATE完成全参数摸底、极限工况验证、可靠性预测试，无需大规模量产配置，兼顾低成本租赁与采购双重需求，缩短芯片迭代周期。进口小型桌面ATE租赁费用高昂，按月结算成本难以控制，且排期紧张，新品研发调试无设备可用；市面国产小型设备精度缩水，无法复现量产机台同等测试条件，实验室验证数据无法对标量产标准；设备操作软件复杂，IC设计工程师无专业测试培训难以操作；硬件固定不可拓展，后续芯片迭代新增测试项目需要重新采购整机；海外设备售后远程调试时差大，样品故障复现调试周期漫长。杭州国磊推出G97桌面小型研发**机型，占地面积只传统量产机40%，摆放不受实验室空间限制；硬件主要测量精度与量产G97-X200完全一致，实验室摸底数据可直接对标量产产线标准；可视化极简操作软件，配套图文操作教程，芯片设计工程师无需专业测试培训即可完成样品验证；模块化拓展插槽，后续芯片迭代新增模拟、数字测试项目只需加装板卡，无需更换整机；支持采购、短期租赁两种合作模式，灵活匹配研发小批量样品测试需求；杭州本地技术工程师一对一协助开发测试程序，加速芯片迭代验证。上海导电阳极丝测试系统研发