国产替代绝缘电阻测试系统研发

    BMS芯片负责动力电池电芯电压采集、均衡、过压/过流/短路保护，直接决定新能源整车安全，测试需模拟多串电芯电压、大电流充放电、极端短路故障场景，同时验证高低温下保护阈值稳定性，属于高压大电流混合信号测试范畴，对设备绝缘防护、功率输出能力要求极高。海外功率类ATE单价千万级别，交付周期长且备件采购受限；多数国产通用ATE高压隔离等级不足，大电流测试存在漏电、设备击穿安全隐患；缺少电芯电压仿真**模块，只能单通道手动调节电压，多串电芯同步测试效率极低；短路保护测试能量管控差，瞬间大电流易烧毁待测芯片；设备与充放电工装兼容性差，需要额外搭建分立仪器配套，产线占地面积大，单条BMS测试产线投入成本居高不下。国磊GT200P功率/BMS**测试平台，整机高压绝缘防护等级达车规标准，支持多路电芯电压同步仿真输出，一键配置4~16串动力电池工况；内置可控能量限制短路测试单元，在复现故障场景的同时保护芯片不被击穿；集成均衡电流、过压、过流、欠压全套自动化测试流程，单台设备一站式完成BMS所有电性项目；模块化硬件可搭配快充、功率MOS拓展子板，一机兼容BMS保护芯片、功率开关器件；设备体积紧凑，相比进口设备节省40%厂房空间。 国磊 ATE 支持 BMS 电池管理模拟芯片全套车规测试，高压浮动板卡实现电芯采集均衡、充放电保护。国产替代绝缘电阻测试系统研发

    面向自动驾驶域控制器、车载中控、车身控制等场景的车规级MPU主控芯片，国磊ATE严格按照AEC-Q100车规测试标准，打造了高可靠、可追溯的专业化测试方案，完美适配车载芯片严苛的测试与品质要求。设备支持高低温全温区联动测试，可模拟车载-40℃~125℃极端温度工况，验证MPU芯片在高低温环境下的模拟采集精度、数字总线通信稳定性、电源域保护逻辑、时序运算准确性。可同步测试车载MPU多路模拟信号采集、高速数字接**互、功耗控制、故障自检、异常保护等主要功能，多角度排查车载工况下芯片容易出现的参数漂移、通信失效、运算异常、保护失灵等安全隐患。同时设备具备完整的测试数据全程记录、分类归档、溯源管理能力，可满足车规芯片终身品质追溯的行业要求。自动化标准化测试流程，可适配车规MPU小批量研发验证与大批量量产筛选，为车载主控芯片国产化替代筑牢品质测试防线。 高阻测试系统市价国磊G97-ADC 是G97 通用 PXIe 模块化平台下的 ADC / 混合信号测试系统，专为模数转换芯片打造。

    国磊ATE设备创新性打通芯片研发验证与量产测试全流程闭环，单台设备支持研发调试、量产自动化两种工作模式无缝切换，彻底解决传统设备“研发机不能量产、量产机不便调试”的行业痛点。在实验室研发阶段，设备可实现芯片流片前仿真对标、流片后性能表征、参数精细化调试、缺陷精细定位，帮助研发团队快速优化电路设计、修正性能偏差、缩短芯片研发迭代周期。在量产阶段，设备可一键切换自动化量产模式，适配晶圆CP探针测试、封装成品FT测试全流程，对接自动化产线实现批量测试、不良筛选、数据归档。两套模式共用同一套硬件主要与软件算法，保证研发测试参数与量产测试标准完全统一，避免模式切换带来的测试偏差与标准脱节，大幅降低企业设备投入、产线转换与人员培训成本，实现芯片从研发到量产的无缝衔接、高效流转。

    ADC/DAC实现模拟信号与数字信号互相转换，广泛应用工业采集、医疗设备、车载传感，8~32bit高精度型号对同步时序、信噪比SNR、总谐波失真THD指标要求严苛，测试需搭配高速波形发生器AWG与多通道同步测量单元，多工位并行是量产降本主要手段。高精度ADCATE长期被海外厂商垄断，受出口管制影响交付周期拉长至12个月；多数国产通用ATE缺少**波形发生模块，多通道同步采样时序偏移达纳秒级，THD、SNR测试误差超标，出现大量误判漏筛；传统设备同测工位上限16Sites，单颗芯片测试时长久，千万级月出货产线产能瓶颈突出；软件向量存储深度不足，多阶失真度测试中途卡顿；设备不支持多档位增益自动切换，高低幅值信号需分两次上机，大幅增加产线流转成本。国磊专属G97-ADC模数混合测试平台，内置定制化高速AWG与皮秒级同步TMU测量单元，多通道时序同步校准误差＜10ps，精细完成32bit以内全规格ADC/DAC失真度、信噪比测试；硬件原生支持32/64Sites并行量产方案，单条产线产能提升2-3倍；超大向量存储空间，支持上万阶谐波失真连续测试；自动增益档位切换，单次插卡完成全幅值参数检测；配套国产自研闭环软件，开放底层接口对接工厂MES系统，数据实时上传溯源。 GT600 数模混合 ATE 融合高速数字通道、精密模拟源、ps 级时序测量单元，单台设备完成SoC 算力逻辑 + 模拟前端。

    针对工业控制、高精智能设备搭载的高性能MPU处理器芯片，其逻辑运算复杂、时序精度要求高、隐性缺陷排查难度大，国磊GT600ATE搭载大深度向量存储架构，单通道比较高支持128M向量深度，可完美适配高精MPU海量逻辑向量、复杂时序、多任务运算的测试需求。设备可精细加载大规模测试向量，多角度校验MPU内核逻辑运算精度、多线程任务处理稳定性、高速总线时序匹配性，精细定位传统测试设备难以排查的时序违规、逻辑漏洞、运算异常、瞬时失效等隐性缺陷。同时可同步完成MPU芯片电源功耗、模拟辅助模块、外设接口、存储系统的一体化测试，实现芯片硬件性能全维度校验。在芯片研发阶段，可深度挖掘底层硬件缺陷，助力研发团队优化芯片架构与时序设计；在量产阶段，可实现高精MPU芯片高覆盖率、高精度批量筛选，杜绝不良芯片流入终端市场，充分满足高精工业、智能设备对主控芯片的高可靠性要求。 国磊G97-ADC GI-DMUMS32 数字测试卡：32 通道高速数字 IO，适配 ADC 数字输出接口、寄存器读写。高阻测试设备生产厂家

国磊G97-X200全模块化 PXIE 总线架构，灵活适配多品类芯片。国产替代绝缘电阻测试系统研发

    CIS图像传感器常见用于手机、车载摄像头、安防设备，芯片测试分为电性直流参数与光学成像同步检测，需要ATE输出稳定供电、读取像素数据，搭配标准光源同步采集噪点、坏点、灵敏度指标，属于模/数/光一体化复合型测试场景。绝大多数ATE只支持单一电性能测试，光学成像检测需要额外采购**光学测试设备，产线两套设备流转，节拍拉长、人力成本翻倍；普通设备像素数据解析能力弱，只能人工筛查坏点、噪点，漏检率高；切换2M~48M不同规格CIS芯片时，需要重新整套搭建硬件、调试程序，新品导入周期长；设备与标准光源、探针台通讯协议不兼容，无法实现全自动联动，需要人工上下料切换测试模式。G97-X200为业内少数实现模/数/光一体化集成的国产ATE平台，预留标准化光源联动接口，可外接行业通用标准光源，同步完成供电、像素信号采集、光学参数检测；内置自研图像数据解析算法，自动标记像素坏点、暗电流噪点、灵敏度偏差，全程无需人工干预；模块化硬件架构，更换适配子板即可快速切换2M至48M全规格CIS测试，NPI调试周期缩短50%；原生兼容主流探针台、分选机通讯协议，实现晶圆CP、成品FT全自动一体化产线；单台设备替代传统电性、光学两套设备。 国产替代绝缘电阻测试系统研发