国产替代GEN3测试系统供应

    长期以来，国内高精模拟、数模混合、AISoC测试设备被海外品牌垄断，存在采购成本高、交付周期长、售后响应慢、定制化能力弱等诸多痛点，国磊半导体ATE凭借自研主要硬件与软件算法，实现高精测试设备多角度进口替代。设备主要测量精度、时序分辨率、信号纯净度、并行测试能力等主要指标完全对标国际高精机型，可完美替代海外设备完成高精度模拟芯片、高精数模混合SoC、AI算力芯片、车规芯片的研发与量产测试。在性能持平的基础上，国磊国产ATE具备价格优势明显、交付周期短、本地化售后响应快、支持个性化定制开发、软件操作本土化等主要优势，大幅降低国内芯片企业的设备采购与运维成本。作为国产自研ATE**产品，有效打破海外技术垄断，填补国内高精芯片测试领域技术空白，多角度助力国内半导体产业自主可控、高质量发展。 国磊G97-ADC 可与高低温设备联动，完成温漂可靠性批量测试。国产替代GEN3测试系统供应

    针对AI端侧设备、智能穿戴、物联网微型终端搭载的低功耗微型模拟芯片，国磊ATE采用全浮动源架构设计，从硬件底层解决传统测试设备地回路干扰、漏电测量不准的痛点，实现行业前列的微弱信号与低功耗测试能力。设备可精细实现nA级静态漏电流、微瓦级动态功耗的高精度测量，多角度捕捉微型模拟芯片待机、工作、休眠全状态的功耗数据，精细排查微小漏电、功耗异常等隐性缺陷，助力芯片研发团队优化低功耗架构，比较大化提升终端设备续航能力。同时设备可精细测试微型芯片的信号精度、噪声系数、线性度等主要性能参数，适配微型运放、低功耗基准源、微型信号调理芯片等器件的测试需求。支持低压小信号专项测试模式，可模拟终端设备低电压工作工况，验证芯片低压启动、低压稳定运行能力。无论是研发阶段的性能精细化表征，还是量产阶段的低功耗参数批量筛选，都能精细适配，通用满足轻量化、低功耗智能终端的芯片测试标准。国产替代GEN3测试系统供应国磊 G97-X200 通用模拟 ATE 搭载高精度浮动 SMU 与低失真 AWG，专为运放、基准源、模拟芯片打造全参数测试方案。

    模拟小信号芯片是电源、传感器、音频设备的基础主要，主要参数为失调电压、温漂、nA级静态电流，测试依赖高精度SMU（源测量单元）完成微弱电信号激励与采集，是芯片流片前必做的工程摸底测试，直接决定量产良率天花板。当前行业高度依赖进口模拟ATE，设备采购周期超10个月，年度维保费用占设备原值15%以上；市面普通国产机电压测量精度只mV级，无法捕捉μV级失调漂移，温漂测试长时间运行后数据离散度超标；研发阶段芯片迭代速度快，固定板卡架构无法灵活增减模拟通道，新品NPI（新产品导入）调试周期动辄1-2个月；分立台式仪器搭建测试环境自动化程度低，人工记录数据误差高，无法联动探针台实现晶圆自动化验证。杭州国磊G97-X200通用模拟平台搭载自研浮动高精度SMU，电压测量精度达μV、电流分辨率至10pA，完美覆盖微弱信号检测；采用模块化PXIe插槽，模拟、数字板卡可按需自由插拔，单台设备适配多款模拟芯片研发；内置标准化运放、LDO测试脚本模板，工程师无需从零编写程序，新品验证周期缩短60%；原生支持探针台、三温机通讯联动，全流程自动采集、存储、导出测试数据；整机采购+三年维保总成本只进口设备50%，杭州本地7×24小时工程师驻场调试。

    伴随AI大算力芯片、边缘智能设备的快速迭代，PMIC、LDO、DC-DC等电源管理芯片的动态稳定性、低功耗特性成为主要性能指标，国磊G97系列ATE凭借多通道同步高精度源载单元，成为AI电源芯片测试的主要装备。设备可精细模拟AI芯片训练、推理、待机等不同工作状态的动态负载波动，多角度测试电源芯片负载瞬态响应、输出纹波、电压调整率、负载调整率、静态漏电流、动态功耗等关键参数，精细捕捉微小功耗异常与电压漂移问题。同时支持过压、过流、过热、短路等保护阈值自动化测试，通用验证电源芯片的安全防护性能，规避AI算力设备运行过程中电源故障风险。针对端侧AI设备低功耗需求，设备可实现nA级静态漏电精细测量，助力芯片优化低功耗设计，延长智能设备续航时长。设备兼容常温与高低温应力测试，可验证极端工况下电源芯片的性能稳定性，通用适配云端算力集群、AI终端、智能硬件等全场景电源管理芯片测试需求。 国磊G97-ADC 测试系统由测试机、电源箱、PC机、显示器、供电电缆、通讯卡以及线缆等部分组成。

    市面上大量工业控制、物联网**芯片集成MCU主控与ADC/DAC模拟信号链，数模交互复杂、测试难度高，国磊ATE针对性打造一站式混合信号测试方案，完美适配此类集成芯片的全维度测试需求。设备可同步完成芯片数字内核逻辑功能校验、片上ADC模数转换精度测试、DAC数模输出性能测试，同时全覆盖SPI、I2C、UART、LVDS等各类数字通信接口的完整性与稳定性测试，实现单台设备、单次流程完成芯片数模全功能测试。相较于传统分步测试模式，该方案彻底规避了多次测试带来的误差累积与流程繁琐问题，大幅缩短测试程序开发周期与单颗芯片测试时长。在研发阶段，可精细定位数模交互异常、信号转换偏差、接口通信不稳定等隐性问题；在量产阶段，可实现全参数自动化批量筛选，有效提升芯片良率与一致性。通用适配工业物联网、智能家居、智能传感等领域的集成式数模混合芯片测试需求，性价比与实用性远超传统分体式测试设备。 国磊 ATE 完整覆盖 DAC 数模转换芯片量产测试，纯净波形激励源可输出多频段标准信号。盐城导电阳极丝测试系统现货直发

国磊G97-ADC 8 槽研发方案可直接移植到 72 槽量产机，无需重新开发测试程序。国产替代GEN3测试系统供应

    面向新能源汽车、储能领域车规级BMS电池管理模拟芯片，国磊ATE打造了符合AEC-Q100车规标准的专业化测试方案，完美适配电池采集、均衡控制、充放电保护、温度监测等全系列BMS芯片测试需求。设备搭载高压浮动**测试板卡，可安全实现高压工况下芯片各项参数测量，精细测试电芯电压采集精度、电池均衡电流、充放电保护阈值、温度采样误差、静态功耗等主要指标，完全匹配车载复杂电气环境的严苛测试要求。支持高低温循环、电压应力、长时间老化联动测试，可有效验证BMS芯片在高低温、电压波动、复杂干扰工况下的性能稳定性，排查参数漂移、保护失效、采集偏差等隐性质量问题。同时设备具备完整的测试数据追溯与存储能力，可全程记录每颗芯片的测试参数与应力测试数据，满足车规芯片严苛的质量溯源体系要求。自动化测试流程可适配车载芯片大批量量产场景，兼顾研发精度与量产效率，为车规BMS芯片国产化替代提供可靠测试保障。 国产替代GEN3测试系统供应