江苏PXI/PXIe板卡制作

    各类模拟、功率、数字芯片量产分选测试中，多路DUT自动切换、探针台通道切换、负载回路切换依赖继电器驱动板，进口继电器模块通道数量少、单通道成本高、驱动响应速度慢，制约产线并行测试效率提升。杭州国磊GI-CBIT120120路继电器驱动控制板卡，单卡集成120路单独继电器控制通道，硬件高速驱动，切换响应微秒级，支持高压、低压、信号回路隔离切换，可联动全系SMU、AWG、数字IO板卡，搭建全自动多工位量产测试系统，无需人工更换测试负载。120路高密度通道设计大幅节省机箱插槽，相比进口32路继电器板卡，同等通道数量机箱占用空间减少70%，产线设备占地面积压缩，降低厂房投入成本。2026年国内封测厂持续扩产成熟制程芯片量产工位，降本增效成为主要诉求，进口继电器板卡备件采购周期长、维修费用高，国磊继电器板卡全本土生产，备件现货，售后技术团队24小时响应产线故障。针对功率芯片多路器件并行测试、模拟芯片多样品同步校准、存储芯片多颗粒老化切换场景，多块GI-CBIT120级联可扩展数百路切换通道，搭配三温分选机实现全自动无人值守量产测试，明显提升设备稼动率，降低单颗芯片测试人工与硬件成本。 GI 高速波形发生板卡集成 AWG 与数字化采集单元，可复现复杂瞬态信号，满足电源芯片动态负载仿真测试。江苏PXI/PXIe板卡制作

    新能源车800V高压平台普及，SiC功率模块、车载OBC、DC-DC高压功率器件量产规模持续扩大，1000V击穿电压、高温漏电流、多支路并联特性测试，需要高压SMU搭配大规模自动切换继电器，进口高压测试系统通道少、切换工位有限，产线吞吐能力不足。杭州国磊GI-SMUHV011000V高压浮动SMU，具备高绝缘耐压、pA级微电流测量能力，完美适配车载高压功率模块静态击穿、关态漏电流、高温反偏老化测试，浮动隔离设计消除模块多支路测试串扰，测量精度不受高压地环路影响。搭配GI-CBIT120120路继电器驱动板卡，单套系统可自动切换数十个功率模块支路，无需人工插拔夹具，实现全自动并行量产筛选，大幅减少产线人工操作。2026年国内头部车企、功率器件IDM加速自建高压测试产线，进口高压ATE交付周期普遍超半年，延误产线投产进度，国磊高压SMU与继电器板卡现货交付，2周内完成产线系统联调。针对车载AEC-Q101可靠性强制测试项目，整套硬件支持-55℃至175℃三温循环连续测试，硬件内置多重高压安全保护，杜绝产线短路、击穿安全隐患，多套系统并行部署可支撑万级功率模块日产能测试，明显降低车载高压器件测试设备投入，加速新能源车功率半导体国产化量产。 国磊高精度板卡测试系统扩展难？杭州国磊DMUMS32，兼容PXIe标准机箱，支持级联扩展。

    传统测试方案波形发生器、数字化采集器相互独立，两块仪器占用更多机箱插槽，限制系统通道扩展，机箱空间紧张成为很多产线改造常见难题。杭州国磊推出一体化波形测试板卡GI-WRTLF02（高精度2AWG+2DGT）与GI-WRTHF04（高速4AWG+2DGT），单块板卡同时集成激励波形输出与信号采集功能，一块板卡完成以往两块硬件的工作，明显节省PXI机箱插槽资源。节省出的插槽可以扩展更多SMU、数字IO或者继电器通道，同等机箱空间下拓展更多测试能力。高精度型号适配传感芯片、模拟运放低频小信号测试；高速型号面向存储器件、功率器件脉冲动态测试。两款AWG板卡可和GI全系SMU、数字板卡自由搭配，搭建混合信号测试平台。对于机箱数量受限、厂房空间紧张的封测厂和实验室，一体化板卡是优化硬件布局的推荐方案。硬件集成并未**性能，波形失真、采样速率、带宽指标保持行业主流水准，同时简化机箱内部布线、供电结构，降低系统噪声干扰。依靠一体化硬件精简平台规模，帮助客户在有限场地内搭建更高通道规模的测试系统。

    传感器芯片、低压信号链模拟IC、消费类电源芯片市场竞争日趋激烈，芯片企业需要快速完成多颗样品并行参数测试。很多实验室受限于板卡通道数量不足，只能串行测试，测试耗时拉长；进口多通道低压SMU板卡单价高，很多初创Fabless企业难以一次性大规模配置，制约研发效率提升。杭州国磊半导体GI‑SMUBV04，4路精密浮动±10V源测量模块，专为低压模拟芯片、各类传感器、消费类信号链器件打造。四路单独通道，支持并行施加激励与同步采集测量数据，浮动架构抑制系统噪声，保障微弱信号测量精度。板卡可灵活嵌入国磊G97系列ATE测试系统，同时可搭配数字IO、时序测试板卡，组成完整数模混合测试方案。针对研发样品验证、小批量FT成品测试场景，能够高效完成静态参数、功耗特性、输出响应等测试项目。模块化设计带来较高灵活性，客户可以根据项目增长逐步叠加板卡通道，前期投入可控。板卡硬件、固件全部自主研发，本地技术团队提供调试、校准支持，摆脱进口板卡长交期、维保昂贵的痛点，助力国内芯片企业降本提速。 国磊板卡出厂经过温漂、线性度、噪声全项校准，配套校准证书，满足封测厂计量与品质审核要求。

    SiCMOS、GaNHEMT功率器件驱动回路为中低压控制信号，主功率回路承受上千伏高压，测试需要高压主回路静态表征叠加低压驱动轨同步测试，要求高压模块与中低压模块协同工作，同时做好电气隔离，防止高压串入低压回路损坏硬件。很多测试平台只能单独测试高压或者低压，无法同步复现器件真实工作状态。杭州国磊提供成套宽禁带测试硬件组合：GI-SMUHV011000V高压浮动SMU负责主功率端击穿、漏电流测试；GI-SMUHP01/GI-SMUMV04用于驱动栅极电压扫描；搭配GI-WRTHF04高速AWG开展双脉冲动态测试。不同电压等级模块之间电气隔离设计，硬件具备高压防护机制，杜绝高压串扰风险。整套系统同步采集主功率端与驱动端电压电流，完整表征功率器件联动特性。可对接探针**成晶圆CP测试，也能搭建封装模块FT测试平台。面向新能源车OBC、储能逆变器所用宽禁带器件企业，这套一体化高低压协同测试平台，实现静态参数、动态开关特性一站式测试，助力国产SiC、GaN器件性能迭代与量产筛选。 国磊板卡可组合搭配，自由组建模拟 - only、数字 - only、模数混合多种测试架构，灵活匹配芯片品类。国磊高精度板卡

杭州国磊半导体PXIe板卡对标NI，支持定制化功能开发，满足特殊测试需求。江苏PXI/PXIe板卡制作

    在国内模拟IC快速迭代的行业趋势下，大量Fabless设计企业与第三方测试实验室，普遍面临多通道源测量方案选型难题。进口ATE板卡采购成本居高不下，交付周期漫长，通道数量固定，项目迭代时很难灵活扩容，中小批量样品测试阶段，设备TCO居高不下，制约芯片研发迭代效率。杭州国磊半导体自研GI‑SMUMV04，4路精密浮动±60V源测量模块，专为模拟电源芯片、信号链芯片、运放器件的参数测试打造。板卡支持多通道单独源输出与同步测量，浮动架构有效抑制通道串扰，保障微弱信号测量的稳定性。区别于传统板卡方案，国磊模块化板卡可灵活搭配G97系列整机系统，企业不用一次性采购整套昂贵进口设备，按需配置通道数量，大幅降低前期硬件投入。针对芯片研发试样、小批量FT测试场景，该板卡可完成直流参数、漏电流、输出特性等多项测试项目，缩短芯片验证周期。国产自研硬件，本地技术团队快速响应调试、校准、二次适配需求，减少跨地域沟通周期，帮助芯片企业实现降本增效，加速产品推向市场。 江苏PXI/PXIe板卡制作