浙江GEN3测试系统行价

在量子科研机构或企业构建本土化测控生态时，采用国产测试平台可降低技术封锁风险，加速从实验室原型到工程化产品的转化。虽然国磊（Guolei）GT600并非直接用于测量量子态或操控量子比特，但作为支撑量子系统“经典侧”电子学的**测试基础设施，它在量子芯片外围电路验证、控制SoC量产、供应链安全等方面具有不可替代的价值。未来，随着“量子-经典混合系统”复杂度提升，高性能SoC测试设备与量子科技的耦合将更加紧密。因此，杭州国磊（Guolei）的SoC测试系统不仅是半导体产业的利器，也正在成为量子科技产业化进程中的一块关键拼图。国磊GT600支持可配高精度浮动SMU板卡，可在-2.5V至7V范围内施加电压，并监测各电源域的动态与静态电流。浙江GEN3测试系统行价

高同测能力加速智能驾驶芯片量产进程。智能驾驶芯片往往需要大规模部署于整车厂供应链中，对测试效率和成本控制极为敏感。杭州国磊GT600支持比较高512 Sites的并行测试能力，意味着可在单次测试周期内同时验证数百颗芯片，极大缩短测试时间、降低单位测试成本。这种高同测（High Parallel Test）特性对于满足车规级芯片动辄百万级出货量的需求至关重要。此外，其开放式GTFY软件平台支持工程模式与量产模式无缝切换，便于在研发验证与大规模生产之间灵活调配资源，确保智能驾驶芯片在严格的时间窗口内完成认证与交付。PCB测试系统市价支持Windows 7/8/10系统，软硬件兼容性强，部署便捷。

AI眼镜作为下一代可穿戴计算终端，正面临“功能丰富度、续航时长、设备重量”三者难以兼得的工程难题。为实现语音交互、实时翻译、环境感知与轻量化设计，其**SoC必须在极小面积内集成CPU、NPU、DSP、蓝牙/Wi-Fi射频、传感器接口与电源管理模块，同时在先进工艺节点下实现**静态功耗。这类高度集成的异构SoC对测试设备提出了严苛要求：不**需验证复杂功能逻辑，更要精确测量nA级漏电流、微瓦级动态功耗及多电源域切换时序。国磊GT600测试机支持每通道PPMU，可实现nA级IDDQ测量，**识别SoC在睡眠模式下的漏电异常，确保续航能力不受“隐形功耗”拖累。

HBM接口动辄上千个高速信号引脚，数据速率高达Gbps级别，对测试设备的通道密度、测试速率与时序精度提出极限挑战。国磊GT600测试机以400MHz测试速率和**2048个数字通道的强大配置，从容应对HBM接口的高并发、高速逻辑测试需求。其128M向量存储深度可完整运行复杂协议测试Pattern，确保功能覆盖无遗漏。更关键的是，GT600支持512Sites高并行测试，大幅提升测试吞吐量，**降低AI芯片的单颗测试成本。在HBM驱动的算力**中，GT600不**是测试工具，更是提升国产AI芯片量产效率与市场竞争力的**引擎。国磊GT600支持Access、Excel、CSV数据导出，便于模拟测试数据的曲线拟合与工艺偏差分析。

杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度，相当于可存储1.28亿个测试步骤，这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大，如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈，这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足，测试机需频繁从硬盘加载数据，导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存，实现“全速连续运行”，避免性能瓶颈。在工程调试阶段，长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片，128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。国磊GT600SoC测试机DPS板卡支持动态Force输出，可用于HBM电源上电时序（PowerSequencing）验证。GEN测试设备生产厂家

国磊GT600SoC测试机支持高达2048个数字通道，满足HBM接口千级I/O引脚的并行测试需求。浙江GEN3测试系统行价

当全球HBM市场由三星、SK海力士主导，当先进封装技术成为“卡脖子”关键，国产测试设备的自主可控显得尤为重要。国磊GT600测试机，正是在这一背景下崛起的国产**ATE**。它不**性能对标国际**设备，更以高性价比、本地化服务与持续创新能力，赢得国内头部AI芯片企业的信赖。GT600成功应用于多款集成了HBM接口的GPU与AI加速器测试，验证了其在**领域的实战能力。选择GT600，不**是选择一台测试机，更是选择一条自主可控的国产化路径。国磊GT600——智测HBM芯时代，赋能中国算力新未来！浙江GEN3测试系统行价