上海绝缘电阻测试系统

    类脑计算与神经形态芯片是后摩尔时代重要探索方向，神经形态芯片模拟生物神经元与突触工作，采用脉冲神经网络SNN架构，测试涉及脉冲时序依赖可塑性STDP、神经元放电特性、突触权重、大规模网络功能等。很多神经形态芯片企业面临测试方法缺失难题：神经形态芯片采用异步脉冲驱动，与传统同步数字电路测试方法完全不同，通用ATE缺少脉冲神经网络测试支持；STDP等突触可塑性测试需要精确控制脉冲时序差，普通设备时序精度不足；大规模神经元网络功能测试需要复杂脉冲输入模式，设备向量生成能力不足。科普，神经形态芯片测试主要在于"脉冲时序精确控制+突触可塑性测量+网络级功能验证"，神经形态芯片通过脉冲时序传递信息，突触权重根据脉冲前后时序差进行调整（STDP），时序差通常在毫秒级甚至微秒级，设备必须具备精确脉冲时序控制能力才能测试STDP特性，而网络级功能测试则需要生成符合生物神经元放电模式的复杂脉冲序列。 国磊积极参与各大半导体行业展会，对外展示自研 ATE 与板卡方案，拓展全国半导体客户合作。上海绝缘电阻测试系统

    新能源车与工业自动化中CAN/LIN总线应用通用，CANFD、LIN收发器芯片需要在恶劣电磁环境下稳定通讯，测试涉及总线电平、差分信号、共模范围、EMC抗扰度、AEC-Q100车规可靠性等。很多总线收发器企业面临车规测试难题：普通ATE缺少CAN/LIN协议物理层测试板卡，总线电平与差分信号测试不准确；EMC抗扰度测试需要联动电磁干扰源，通用ATE软件缺少外部设备控制接口；车规级高低温循环测试需要设备长时间稳定运行，普通设备可靠性不足。科普，CAN/LIN收发器测试主要在于"总线物理层特性+EMC抗扰度+车规可靠性"，CANFD总线速率可达5Mbps，差分信号幅值、共模范围、对称度直接决定通讯可靠性，而汽车环境电磁干扰严重，EMC抗扰度测试必不可少，同时车规芯片需要通过AEC-Q100高低温循环与长期可靠性验证，测试设备必须具备温箱联动与长时间稳定运行能力。杭州国磊半导体G97-X300工程中批量ATE，支持选配车规优化版本测试板卡，GI-SMUMV04四路±60VSMU完成总线电平与共模范围测试，GI-RIOMS32高速LVDS板卡完成差分信号与传输延迟测试，GI-DMUMS32数字板卡完成协议逻辑验证。系统支持联动EMC干扰源与高低温箱，完成EMC抗扰度与车规可靠性测试。更换不同板卡。 广东CAF测试系统研发公司G97 测试系统搭配 GI-DMUMS32 数字板卡，面向 SoC 混合信号芯片，同步校验数字接口与模拟参数。

    ADC模数转换芯片专项测试能力：针对SAR、Sigma-Delta、Pipeline等全架构ADC模数转换芯片，国磊G97-ADCATE搭载24bit超高精度高速Digitizer采集单元与ps级时序测量模块，构建了全套专业化、高精度测试体系，完美适配AI感知、工业传感、车载信号采集等高精场景ADC测试需求。设备可一站式完成ADC芯片主要性能参数测试，涵盖积分非线性、微分非线性、信噪比、总谐波失真、无杂散动态范围、采样抖动、通道串扰、建立时间等全维度指标，解决了传统仪器测试参数零散、精度不足、时序校准不准的问题。依托低失真激励输出能力，可输出纯净标准测试波形，规避激励信号杂波导致的测试误差，精细还原芯片真实转换性能。同时支持多通道同步采样测试，可有效验证多传感器融合场景下ADC的信号同步性与一致性，助力企业快速排查芯片失真、采样偏移、噪声异常等隐性问题，大幅提升高精ADC芯片的研发效率与量产良率，成为国产高精度ADC芯片国产化替代的主要测试支撑。

    PXIe模块化测试平台，是全球半导体、封测、SoC、功率器件测试的主流通用硬件底座。区别于爱德万、泰克的封闭式测试机，NI主打模块化、可自定义、软件定义仪器，用于Chiplet多Die、SiP、先进封装的研发验证、可靠性测试与中小批量量产测试，是先进封测测试领域的性平台。整套系统由机箱、控制器、功能板卡、上位软件四大模块自由拼装，无固定整机形态，适配多样化先进封装测试需求：-PXIe机箱：标准高速总线背板，高带宽、低延迟，支持多板卡同步并行测试，适配多Die异构测试场景；-嵌入式控制器：搭载实时系统与FPGA硬件加速，保障高速信号、精密测量的时序同步性；-主要功能板卡：涵盖SMU精密源测、高速数字IO、TDR/TDT时域测量、SerDes/UCIe高速接口、模拟采集、开关矩阵等，覆盖先进封测全测试维度；-软件生态：基于LabVIEW、Python、C/C++开发，支持自定义测试算法、故障建模、数据复盘，开放性极强；杭州国磊：国产自主PXIe板卡+整机ATE（G97/GT600），性能对标NI主流型号，满足先进封测量产级精度；价格只为NI的1/3–1/2，交期4–8周，自带标准化测试软件，兼顾研发与量产，适配国内封测产业国产化替代需求。 G97ATE 测试系统支持多批次芯片参数采集，可灵活调整 bin 阈值，应对晶圆工艺参数漂移。

    AI数据中心800G/，光模块DSP芯片负责高速信号调制解调、时钟数据恢复、前向纠错，测试涉及超高速SerDes信号、信号完整性、低功耗、误码率等。很多光模块DSP企业面临超高速测试瓶颈：DSP芯片SerDes速率达112G/224GPAM4，普通高速ATE通道速率不足；PAM4信号测试需要信号分析功能，通用ATE不支持；进口超高速测试设备价格极其昂贵，交付周期长。科普，光模块DSP芯片测试主要在于"超高速SerDes+PAM4信号分析+误码率"，800G光模块DSP的SerDes单通道速率达112GPAM4，PAM4，信号速率较高，对测试设备通道速率、带宽、时序精度要求极为苛刻，PAM4四电平调制比传统NRZ更复杂，需要PAM4信号分析与误码率测试功能，这是通用ATE完全无法覆盖的。杭州国磊半导体G97-X300工程中批量ATE，搭载GI-DMUMS32数字板卡完成DSP逻辑与控制接口测试，GI-SMUBV04低压精密SMU完成电源与功耗测试，GI-RIOMS32高速LVDS板卡完成中速接口测试。系统支持通过标准化接口联动超高速误码仪、实时示波器、PAM4信号分析仪，完成超高速SerDes信号完整性与误码率测试，数据统一管理。更换不同板卡，即可适配800G/、CDR时钟数据恢复芯片、FEC前向纠错芯片，帮助光通信企业以灵活配置方式建立超高速测试方案。 第三方测试实验室可混合部署国磊全系列设备，承接模拟、功率、SoC 多类型芯片外包测试业务。国产替代GEN测试系统精选厂家

车规芯片测试场景，国磊系统稳定输出激励信号，严苛验证电源、信号链芯片在复杂工况的可靠性。上海绝缘电阻测试系统

    便携式电子设备与汽车电子对低噪声LDO稳压芯片需求持续增长，LDO的电源抑制比PSRR、输出噪声、线性调整率、负载调整率是主要测试指标，对测试设备噪声与精度要求较高。很多LDO企业面临PSRR测试难题：PSRR测试需要在宽频率范围内测量电源纹波抑制能力，普通设备缺少频率响应测试功能；输出噪声测试需要极低本底噪声测量设备，通用ATE底噪过高无法测量；线性调整率与负载调整率测试需要高精度电压电流源，普通设备精度不足。科普，LDO芯片测试主要在于"低噪声测量+宽频PSRR测试"，高精LDO输出噪声可达微伏级，测试设备本底噪声必须远低于此才有意义，而PSRR测试需要从直流到数MHz频率范围扫描，设备必须具备频率响应分析功能，这两项都是通用ATE短板，需要低噪声信号链板卡支持。杭州国磊半导体G97-ADC混合信号专项ATE，搭载低噪声信号链硬件，GI-WRTLF02高精度AWG生成电源纹波信号，GI-SMUBV04低压精密SMU极低本底噪声完成输出噪声与PSRR精细测量，系统支持宽频率范围扫描，自动绘制PSRR频率响应曲线。更换不同测试板卡，即可适配LDO、低压差稳压器、电压检测器等多品类电源管理芯片，精细测试PSRR、输出噪声、线性调整率、负载调整率等主要参数。 上海绝缘电阻测试系统