国产替代数字板卡

    工业级数模混合芯片、精密ADC、传感器信号调理芯片，对波形输出精度、采集噪声控制有着严苛标准。不少设计公司选型时陷入两难：高精进口高精度AWG‑DGT板卡预算压力大，普通台式仪器方案同步性能不足，测试数据离散度大，影响芯片良率评估判断，拉长样品迭代周期。杭州国磊半导体GI‑WRTLF02，2路高精度AWG搭配2路DGT数字采集通道，聚焦精密低速混合信号器件测试。板卡侧重输出信号精度与低噪声设计，保障精密激励信号生成与信号采集，适配精密ADC、传感器调理电路、工业模拟芯片的参数与动态测试。作为国磊ATE模块化板卡体系重要组成部分，可与SMU源测量板卡、数字DIO板卡灵活组合，部署于G97系列测试整机。适用于研发样品验证、小批量FT成品测试，完成器件动态特性、响应曲线等测试项目。模块化模式，企业可以根据项目需求逐步增加板卡配置，控制前期硬件投入。硬件全部自主研发生产，国内技术团队快速对接调试、校准需求，相比进口方案，缩短交付周期，降低后续维护成本，助力国内芯片企业完成国产替代，提升测试环节效率。 国磊板卡本土全流程研发生产，供应链自主可控，规避海外模块断供风险，保障国内产线持续运转。国产替代数字板卡

    各类模拟、功率、数字芯片量产分选测试中，多路DUT自动切换、探针台通道切换、负载回路切换依赖继电器驱动板，进口继电器模块通道数量少、单通道成本高、驱动响应速度慢，制约产线并行测试效率提升。杭州国磊GI-CBIT120120路继电器驱动控制板卡，单卡集成120路单独继电器控制通道，硬件高速驱动，切换响应微秒级，支持高压、低压、信号回路隔离切换，可联动全系SMU、AWG、数字IO板卡，搭建全自动多工位量产测试系统，无需人工更换测试负载。120路高密度通道设计大幅节省机箱插槽，相比进口32路继电器板卡，同等通道数量机箱占用空间减少70%，产线设备占地面积压缩，降低厂房投入成本。2026年国内封测厂持续扩产成熟制程芯片量产工位，降本增效成为主要诉求，进口继电器板卡备件采购周期长、维修费用高，国磊继电器板卡全本土生产，备件现货，售后技术团队24小时响应产线故障。针对功率芯片多路器件并行测试、模拟芯片多样品同步校准、存储芯片多颗粒老化切换场景，多块GI-CBIT120级联可扩展数百路切换通道，搭配三温分选机实现全自动无人值守量产测试，明显提升设备稼动率，降低单颗芯片测试人工与硬件成本。 精密测试板卡厂家杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32对标NI，专注PXIe测试平台，助力“芯片”测试。

    晶圆CP测试是芯片制造前段关键工序，需要测试硬件与探针台精细联动，快速完成上万颗芯粒电学扫描，对通道切换速度、通讯兼容性、高压安全保护有着硬性标准。很多高压功率晶圆、模拟芯片厂商反馈，进口测试模块和国产探针台协议适配困难，调试周期漫长。杭州国磊GI系列测试板卡支持主流探针台通讯协议，可快速实现硬件联动。碳化硅、IGBT晶圆高压击穿测试，搭载GI-SMUHV011000V浮动SMU，硬件内置高压互锁保护，防止探针扎针异常造成晶圆损坏；通用模拟、MCU晶圆测试可组合GI-SMUMV04、GI-DMUMS32实现电源激励与数字逻辑同步测试。GI-CBIT120120路继电器驱动板卡，实现多路探针通道快速切换，缩短芯粒之间切换等待时间，提升晶圆探针吞吐效率。板卡支持连续批量扫描模式，自动记录每颗芯粒I-V参数，标记失效点位，输出晶圆Mapping数据。模块化架构灵活，研发阶段小规模晶圆测试可以少量配置通道；量产线大规模晶圆测试可多机箱级联扩容。相比整套进口晶圆测试系统，硬件采购成本明显降低，本土工程师驻场协助探针台联调，大幅缩短产线调试周期，帮助晶圆厂、Fabless企业高效完成CP晶圆筛选，提前剔除失效晶粒，节约后端封装成本。

    一套完整自动化半导体测试系统，离不开可靠的信号回路切换单元，继电器板卡作为硬件枢纽，连通测试板卡、夹具、待测芯片。市面上进口继电器模块通道密度低，同等通道数量需要多张板卡，占用大量插槽。杭州国磊GI-CBIT120单卡集成120路**继电器驱动通道，微秒级切换响应，支持信号回路、功率回路切换，可适配低压模拟信号、*功率电源回路搭配隔离设计。能够联动GI全系SMU、AWG、数字IO板卡，实现多颗DUT自动轮换、多种测试回路切换、探针通道选通。无论是晶圆探针台多路芯粒切换，量产分选多夹具轮换，还是可靠性老化多路器件循环应力加载，都可以依托该板卡实现自动化。多块GI-CBIT120级联可轻松扩展数百路切换通道。高密度单卡设计大幅节约机箱插槽，留出更多空间配置测量功能板卡。继电器回路具备过流保护，避免待测器件异常损坏测试硬件。对于计划搭建全自动无人值守研发测试平台、量产FT、老化系统的企业，GI-CBIT120是自动化系统不可或缺的主要枢纽模块，以高通道密度降低整套系统硬件投入。 杭州国磊半导体PXIe板卡能确保测试设备在元器件、软硬件架构和生产制造环节的自主可控。

    车载显示、MiniLED驱动、工业屏驱动芯片采用大量LVDS高速差分接口，高速图像数据传输、时序同步、高低温信号衰减测试，对数字IO通道速率、时序精度、差分信号完整性要求较高，普通低速DIO板卡无法复现真实显示工况，进口高速LVDS板卡溢价严重。杭州国磊GI-RIOMS3264路高速LVDS数字I/O测试板卡，64路差分高速通道集成于单卡，纳秒级时序同步控制，板卡内置阻抗匹配电路，高低温环境下差分信号抖动控制在极小范围，精细模拟显示屏高速数据交互场景，完整测试驱动芯片刷新率、信号衰减、通道一致性主要指标。可联动GI-WRTLF02高精度AWG生成背光驱动模拟波形，搭配GI-SMUMV04多通道SMU测试多路背光电源轨，构建显示驱动芯片数模一体化测试平台。2026年车载大屏、MiniLED市场爆发，本土显示驱动芯片设计公司扩产需求旺盛，但高速数字测试硬件长期依赖海外采购，货期不稳定制约产能释放，国磊高速LVDS板卡全自研高速链路，现货交付，底层驱动完全开放，支持客户自主开发测试程序，无软件授权年费。针对晶圆CP探针高速测试、封装后老化时序筛选场景，多块GI-RIOMS32级联扩展数百路差分通道，同步并行测试多颗驱动芯片，快速筛除高速信号失效产品，提升显示芯片量产良率。 杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32，支持Edge和Windows两种采样模式，兼顾效率与深度分析。杭州测试板卡价格

杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32板卡对标NI，工作温度0~55°C，适应工业级严苛环境。国产替代数字板卡

    功率管理IC、多通道BMS、多路输出电源SoC内部存在多条单独电源轨，不同电压域需要同步施加激励、同步采集参数，先后测试会无法复现芯片真实工作状态，造成参数测试偏差。这类芯片测试要求测试硬件具备多梯度**电压通道，通道之间隔离互不干扰。杭州国磊GI系列SMU天然形成完整电压梯度矩阵：GI-SMUBV04±10V低压通道、GI-SMUMV04±60V中压通道、GI-SMUHP01±100V高压通道、GI-SMUHV011000V超高压通道，不同规格SMU可在同一机箱协同工作，多电压域同步输出激励。多条电源轨**浮动隔离，杜绝相互串扰，同步采集各路电压、电流数据，精细复现芯片多轨同时上电的实际工况。搭配GI-DMUMS32数字板卡输出控制信号，实现模拟电源与数字控制同步联动，完整覆盖多路电源管理芯片全套测试项目。整套方案大量应用于储能BMS、多路快充SOC、多通道工业电源芯片研发与量产。相比采购多台**台式源表，PXI模块化架构时序同步性更强，系统集成度更高，方便对接自动化分选设备，搭建多路电源芯片标准化量产测试工位。 国产替代数字板卡